JC Pro1000S PCIE NAND Программист JC P8 P7 для iPhone 6S 6SPlus SE 7g 7p 8 8 P X проверка ошибок чтения

JC P7 P8 PCIE Nand Тесты приспособление-это революционный NAND основной ошибка инструмент для ремонта мобильных телефонов для iPhone X 8 8 P 6 S/6 S Plus/SE/7/7 Plus/iPad Pro, функция формата NAND Flash, резервное копирование данных раздела (*. файл bin), проверьте данные раздела и проводите анализ данных (не Данные файла, Только данные о разделении).

Iphone исходные данные чтения/записи/ремонт Тесты приспособление для iphone X 8 8 P 6s/6s Плюс/SE/7/7 Plus/ipad Pro, ремонт/исправление ошибок iphone 6s-7 P NAND, расширение памяти iphone/ipad NAND, удаление проблем привязки Wi-Fi, разблокировка wifi, изменение wifi IC в любом месте

Функция:

JC P7 P8 добавлены новые функции: NAND флэш-накопитель формата функция, JC модуль PCIe может не поддерживают данную функцию. PCIE NAND Flash Partition formulation может зафиксировать множество кодов ошибок в ЮАР, затем вы можете повторно флэш-памяти NAND с помощью тестового прибора, вы также можете резервного копирования данных о секциях (*. файл bin): Основные данные и данные ядра, а также проверка данных разделов и анализ данных (не данные файлов, только данные о разделении).

Модуль JC P7 P8 поддерживает восстановление уровня глубины исходных данных и данных ядра

JC P7 P8 поддерживает почти PCIE NAND и быструю базовую скорость чтения/записи данных (1-2 секунды), JC PCIE около 6-8 секунд

Совершенно новая вспышка NAND, нужна повторная вспышка nand, или JC-P7 P8 не может читать/писать,

Не только может работать на JC онлайн-платформе программного обеспечения, но и может работать на JC PRO1000S автономная машина.

Примечание:

Потому что Новый JC-P7 P8 PCIE тестовое приспособление, не включая инженерную материнскую плату, не может получить ECID, пожалуйста, перезагрузите с boot nand, возможно, будет ошибка: Войдите в режим iboot, пожалуйста, замените nand ic, а затем нажмите [загрузить загрузочный файл]

Вам нужно повторно хранить nand JC PCIE или материнская плата для iphone тестового прибора.